ZEISS IQS Polska

Rozwiązania metrologiczne dla przemysłu

Industrial Machinery Manufacturing · Wielkopolskie

About

ZEISS to wiodąca firma technologiczna o ponad 100-letnim doświadczeniu w dziedzinie metrologii przemysłowej. Dział Metrologii Przemysłowej (ZEISS IQS) zapewnia standardy jakości wszędzie tam, gdzie wymagana jest najwyższa precyzja. Z powodzeniem wdrażamy rozwiązania w zakresie precyzyjnej metrologii przemysłowej w działach kontroli jakości, rozwoju i produkcji. Współrzędnościowe maszyny pomiarowe, tomografy, skanery 3D, oprogramowanie metrologiczne, mikroskopy do badań naukowych, jakościowych i kontroli czystości oraz automatyczne systemy pomiarowe to nasza codzienność. Współpraca z nami przynosi wymierne korzyści. Nie musisz wierzyć nam na słowo. Przekonaj się podczas prezentacji systemu pomiarowego. Zapewniamy dobór odpowiedniej maszyny pomiarowej do konkretnej aplikacji i zastosowania. Przeprowadzamy kompletny proces instalacji i wdrożenia maszyn oraz urządzeń w polskim przemyśle, uczelniach i jednostkach badawczych. Wykwalifikowani pracownicy wykonują szkolenia z obsługi maszyn pomiarowych oraz oprogramowania. Niezależnie od tego czy jest to rozwiązanie do analiz i kontroli jakości czy inżynierii odwrotnej. Oba zagadnienia nie mają przed nami tajemnic i dokładamy wszelkich starań, żeby u Ciebie było tak samo. Świadczymy pełne wsparcie techniczne w zakresie naszych produktów. Prowadzimy też lokalny serwis, a dzięki aż 3 centrom kompetencyjnym na terenie Polski (Warszawa, Poznań, Tychy) zapewniamy szybki dostęp do technologii. Pomagamy, doradzamy i oferujemy wsparcie w zakresie usług pomiarowych, skanowania 3D oraz metrologii. Razem doskonalimy jakość!

Details

  • Website: http://www.zeiss.pl/metrologia
  • Founded: 1992
  • Company Size: 11 employees
  • Headquarters: Poznań, Wielkopolskie
  • Specialties: skanery 3d, maszyny pomiarowe 3d, współrzędnościowa technika pomiarowa , pomiary deformacji, kontrola jakości, oprogramowanie, skaner 3D, skanowanie 3D, automatyzacja pomiarów, CMM, maszyny współrzędnościowe, tomografia przemysłowa